光的干涉在雙遠心鏡頭研發(fā)中的作用

物理學中，干涉是兩列或兩列以上的波在空間中相遇時發(fā)生疊加或抵消從而形成新的波形的現象。光也是一種波，在特定情形下，光也能發(fā)生干涉現象，在現代工業(yè)中常用于精密檢測——如雙遠心鏡頭的鏡片檢測，激光干涉儀也被譽為“最精密的尺子”。

光的干涉，最早是1801年，由英國物理學家托馬斯楊（1773-1829）在實驗室中觀測得到。這就是歷史上著名的雙縫干涉實驗，這個實驗成功證明了光具有波動性，因為光的干涉現象是波動獨有的特征，如果光真的是一種波，就必然會觀察到光的干涉現象。

光的干涉被發(fā)現后，科學家們得出了一個結論，科學家們得出了一個結論，光是一種概率波，具有波粒二象性，即光具有粒子的特性，又具有電磁波的特性。之后德布羅意提出物質波假說 ，認為和光一樣，一切物質都具有波粒二象性。

1887年邁克爾杰克遜和莫雷使用了光研究以太是否存在，他們以光波長作尺子刻度測量了水平面和垂直面的光速之差，第一次否定了以太的存在。他們利用的是光的干涉現象，這就是光學干涉儀的誕生。

在現代工藝中，人們常常利用光的干涉來解決現實中的多種復合的或者復雜問題。利用光的干涉原理可以在工程技術中處理大量問題，例如:它既可以測量光波的波長、透明介質的折射率又可以確定電磁波的發(fā)射源頭方位，并可以較為精確地測量工件的平整度以及薄膜的厚度，從而被廣泛應用于鍍膜技術中。

在實際工藝當中，科研人員們利用光的干涉來進行精度測量。例如：檢定螺旋測微器（即千分尺）、精確測定光學部件的曲率半徑、檢測特殊精密零件以及測量微小楔角等。

以下是X射線干涉儀幾何示意圖，X射線干涉術是一種高精度的檢測技術，精度可以達到10弧度。

干涉技術能用來檢測鏡片面型，鏡片面型對于鏡頭來說很重要，特別是精度很高的雙遠心鏡頭，對表面的平整度要求很高，肉眼很難看得出來，因此需要用到干涉的方法。

光虎光學采用激光干涉儀對每個鏡頭的鏡片面型進行檢測，可以得到鏡片的相關截面和粗糙度參數，并且不會對鏡片造成損害。這種方法，對每支雙遠心鏡頭的質量做出了保障。

干涉技術也能用來檢測鍍膜的厚度，鍍膜是在鏡片表面鍍上非常薄的透明薄膜，一般使用光學干涉測厚儀來檢測鍍膜的厚度。

鍍膜的厚度單位一般使用的是微米，其厚度非常小，傳統(tǒng)方法無法在不損害鏡片的前提下精準測量，而鍍膜的厚度又對產品質量有著極其重要的影響，它能減少光的反射，增加透光率，抗紫外線并抑制耀光、鬼影。
光學干涉測厚儀的原理是等厚干涉，使用的是白光光源，發(fā)射一束白光至薄膜表面，通過檢測反射光的干涉條紋，即可測量出薄膜的厚度。

【來源：光虎光學內部培訓資料】